理学X射线衍射仪

◤ 理学X射线衍射仪技术参数：

◣ 1. X射线发生器功率为3KW；
◣ 2. 测角仪为水平测角仪；
◣ 3. 测角仪步进下线为1/10000度；
◣ 4. 测角仪配程序式可变狭缝；
◣ 5. 高反射效率的石墨单色器；
◣ 6. CBO交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带Mirror）；
◣ 7. 小角散射测试组件；
◣ 8. 多用途薄膜测试组件；
◣ 9. 微区测试组件；
◣ 10. In-Plane测试组件；
◣ 11. 高速探测器D/teX-Ultra；
◣ 12. X射线衍射-差示扫描量热仪同时测量装置 XRD-DSC；
◣ 13. 分析软件包括：XRD分析软件包、NANO-Solver软件包、GXRR软件包等。

◤ 理学X射线衍射仪主要特点：

组合式多功能X射线衍射仪Ultima IV系列，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品

◤理学X射线衍射仪 主要的应用：

◣ 1. 粉末样品的物相定性与定量分析；
◣ 2. 计算结晶化度、晶粒大小；
◣ 3. 确定晶系、晶粒大小与畸变；
◣ 4. Rietveld结构分析；
◣ 5. 薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度；
◣ 6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构；
◣ 7. 小角散射与纳米材料粒径分布；
◣ 8. 微区样品的分析。